Page 132 - CITS - Fitter - TP (Volume 2) - Hindi
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िफटर - CITS
c एनालॉग ै िनंग जांच
जो डेटा सं हण के दौरान काय सतह के साथ संपक बनाए रखते ह
2 गैर संपक जांच।
a लेजर जांच
b ि जांच हाड जांच
हाड ॉब (Hard probes)
हाड ॉब का उपयोग करने के िलए, CMM ऑपरेटर मै ुअल प से ॉब को काय भाग के संपक म लाता है, मशीन को र होने देता है और मै ुअल
प से CMM को ॉब की ित रकॉड करने का संके त देता है। CMM का सॉ टवेयर चािलत प से ॉब िटप के ास की भरपाई करने के िलए
रीिडंग को एडज करता है। उदाहरण के िलए, बोर ास को पढ़ते समय, सॉ टवेयर CMM ॉब िटप के ास की भरपाई करता है तािक बोर का
वा िवक ास िदखाया जा सके ।
इनका उपयोग अ र व सतहों, काय -व ु की िवशेषताओं के बीच की दू री, कोण और िछ ों के ास तथा के रेखा ान को मापने के िलए िकया
जाता है, ऐसे अनु योगों म िजनम िन से म म सटीकता की आव कता होती है।
टच िट गर ॉब (Touch trigger probes)
टच िट गर ॉब सटीक प से िनिम त, श -संवेदनशील िडवाइस ह जो हर बार इले ॉिनक िस ल उ करते ह जब ॉब काय भाग पर िकसी िबंदु
से संपक करता है। भाग के साथ संपक आमतौर पर एक LED और एक “beep” ारा इंिगत िकया जाता है। जांच का िसर यं CMM की चलती
ई धुरी म से एक के अंत म लगा होता है। इसे मै ुअल प से या चािलत प से घुमाया जा सकता है, और कई अलग-अलग ाइलस िट और
अटैचम ट को एडज कर सकता है। ये िवशेषताएं िट गर ॉब को एक ब मुखी (वस टाइल) और लचीला डेटा-एक ण िडवाइस बनाती ह । यह िडज़ाइन
टच िट गर ॉब माप प रणामों की सटीकता म सुधार करता है ों िक यह ाइलस झुकने और जांच के आंत रक इले ोमैके िनकल भागों के कारण होने
वाली अशु यों के भाव को समा करता है।
एनालॉग ै िनंग ॉब (Analog scanning probes)
एनालॉग ै िनंग ॉब एक कार की संपक ॉब है िजसका उपयोग शीट मेटल अस बली जैसी समो सतहों को मापने के िलए िकया जाता है। एनालॉग
ै िनंग जांच काय पीस की सतह के संपक म रहती है ों िक यह चलती है और िडिजटल माप के बजाय एनालॉग रीिडंग उ करती है।
िनरंतर एनालॉग ै िनंग एक अपे ाकृ त नई टे ोलॉजी है। यह डेटा अिध हण के नाटकीय प से बढ़े ए रों की पेशकश करके CMM म वेस िटिलटी
जोड़ता है, जो माप और िनरी ण संचालन की सटीकता को गित और सुधारता है।
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CITS : C G & M - िफटर - अ ास 83 & 84
